目錄:上海明策電子科技有限公司>>INFRAMET光電測(cè)試系統(tǒng)>>光電測(cè)試系統(tǒng)>> FT型熱像儀核心及IR FPA測(cè)試系統(tǒng)
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更新時(shí)間：2025-05-29 09:57:38瀏覽次數(shù)：110評(píng)價(jià)
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣,綜合 |
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FT測(cè)試系統(tǒng)的FT-S配置（光譜參數(shù)測(cè)量）
紅外焦平面陣列是熱成像系統(tǒng)最重要的核心部件。探測(cè)器電路（核心）的設(shè)計(jì)是熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵部分。因?yàn)榧t外焦平面陣列的參數(shù)決定了熱像儀系統(tǒng)的性能極限，紅外焦平面技術(shù)或熱像儀技術(shù)方面的專業(yè)人員必須精確地了解紅外焦平面陣列參數(shù)方面的知識(shí)。因此，測(cè)量紅外焦平面陣列性能的測(cè)量設(shè)備是研發(fā)紅外熱成像系統(tǒng)的關(guān)鍵。
FT是一個(gè)完備的測(cè)試系統(tǒng)，它產(chǎn)生精確控制時(shí)空分布的紅外，輻射到紅外焦平面的輸入平面來(lái)控制被測(cè)紅外焦平面；最后對(duì)被測(cè)紅外焦平面陣列（或熱像儀核心）進(jìn)行表征所需的輸出信號(hào)進(jìn)行半自動(dòng)分析。
該系統(tǒng)能夠測(cè)量熱像儀核心和紅外焦平面陣列的所有重要參數(shù)（噪聲/靈敏度、成像質(zhì)量和光譜參數(shù)）。可測(cè)試不同光譜波段（LWIR或MWIR）、冷卻或非冷卻的探測(cè)器。FT系統(tǒng)可以在一系列版本中提供，并針對(duì)不同測(cè)試范圍的熱成像核心和紅外焦平面陣列進(jìn)行優(yōu)化，還可以選擇能夠測(cè)試完整的熱像儀的超擴(kuò)展版本。
FT測(cè)量系統(tǒng)一個(gè)模塊化的系統(tǒng)，可以方便快速地配置成三個(gè)半獨(dú)立的測(cè)量工作站：FT-N，F(xiàn)T-I，和FT-S。
1.FT-N——噪聲和響應(yīng)參數(shù)的測(cè)量；
2.FT-I——成像質(zhì)量參數(shù)的測(cè)量
3.FT-S——光譜參數(shù)測(cè)量。
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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