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四探針電阻率測試步驟流程
半導體采用四探針法測試電阻率及電導率，他的性質在一般情況下，半導體電導率隨溫度的升高而減小，這與金屬導體恰好相反。
上述特征的材料都可歸入半導體材料的范圍。反映半導體材料內在基本性質的卻是各種外界因素如光、熱、磁、電等作用于半導體而引起的物理效應和現象，這些為半導體材料的半導體性質。
半導體材料分為元素半導體、無機化合物半導體、有機化合物半導體和非晶態與液態半導體。
備制不同的半導體器件對半導體材料有不同的形態要求，包括單晶的切片、磨片、拋光片、薄膜等。半導體材料的不同形態要求對應不同的加工工藝。
半導體材料的特性參數對于材料應用甚為重要。不同的特性半導體材料決定不同的用途。
下面就半導體材料四探針電阻率測試儀給大家介紹下操作流程及操作步驟，就FT-341四探針電阻率測試儀為例，來做詳細的介紹：
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