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華測高溫低電阻測試儀技術參數及采購必知

閱讀:1194        發布時間:2022/7/26
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華測高溫低電阻測試儀技術參數及采購必知



一、華測高溫低電阻測試儀功能特點:

█ 多功能真空加熱爐,一體爐膛設計、可實現、高溫、真 空、氣氛環境下進行測試 

█ 采用鉑材料作為導線、以減少信號衰減、提高測試精度;

█ 可以測量半導體薄膜材、薄片材料的電阻、電阻率;

█ 可實現常溫、變溫、恒溫條件的I-V、R-T等測量功能;

█ 溫度傳感器、PID自動溫度控制,使測量溫度zhunque

█ 儀器可自動計算試樣的電阻率pv;

█ 10寸觸摸屏設計,一體化設計機械結構,穩定; 

█ 程控電子升壓技術,紋波低、TVS防護系統,儀器性; 

█ 99氧化鋁陶瓷絕緣、碳化鎢探針;

█ huace pro 控制分析軟件。

 

二、華測高溫低電阻測試儀技術參數:

1、溫度范圍:室溫-1000℃, (反射爐加溫 )配水冷機; 

2、控溫精度:(溫控) ±0 5℃ ;

3、測量精度: ± 0.25℃;

4、升溫斜率:20℃/min (可設定);

5、降溫斜率:  1-200℃/min ( 自調整);

6、測量精度:0.5%;

7、樣品規格:直徑: 20mm 以內;厚度: 5mm以內; 

8、電材料:鉑金;

9、測量方式:2 線- 4線測量方式;

10、測量范圍: 0.1uΩ- 100MΩ

11、供 電:220V±10%,50Hz;

12、工作環境:0℃ - 55℃;

13、存儲條件:- 40℃-70℃;

14、尺 寸:750mmX660mmX360mm;

15、重 量: kg 25

 

產品型號

溫度范圍

設備功能

HGTZ-901

室溫-800C°

單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環境

HGTZ-902

室溫-1200C°

單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環境

HGTZ-903

室溫-1450C°

單組試樣;片狀樣品;四探針法;薄膜或薄片狀樣品;真空、氣氛環境














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