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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
耐電弧試驗(yàn)儀的試驗(yàn)程序及注意事項(xiàng)
1.測(cè)定耐電弧時(shí)，置試樣于電極裝置內(nèi)并準(zhǔn)確調(diào)節(jié)電極間距 。
2.接通試驗(yàn)回路并觀察起始電弧、漏電起痕進(jìn)展和被試材料的任何奇特現(xiàn)象。如果任何試驗(yàn)階段的笫一次試驗(yàn)進(jìn)展正常，則隨后的試驗(yàn)就不必再仔細(xì)觀察。
警告 ：在觀察電弧過(guò)程中，操作者要配戴防紫外線眼鏡或應(yīng)用紫外線遮護(hù)板。
3.每次1min試驗(yàn)結(jié)束時(shí)，電弧嚴(yán)酷程度將按表1所示順序增加，直至發(fā)生失效。失效當(dāng)被試材料內(nèi)形成導(dǎo)電通道時(shí)，認(rèn)為材料已經(jīng)失效。
如果電弧引起某一材料燃燒和當(dāng)電弧被切斷后材料還繼續(xù)燃燒，則也認(rèn)為材料已經(jīng)失效。
（1）:當(dāng)電弧放電因深入材料內(nèi)部而消失時(shí)，問(wèn)路電流通常會(huì)發(fā)生變化且聲音發(fā)生明顯改變。
（2）:對(duì)某些材料，在電極間電弧全部熄滅前，在相當(dāng)長(zhǎng)的時(shí)間范圍內(nèi)，朝失效發(fā)展的趨勢(shì)增加，僅當(dāng)電弧已熄滅才發(fā)生失效。
（3）:對(duì)某些材料，在電弧已經(jīng)熄滅之后，在靠近電極處可能觀察到持續(xù)的火花。不應(yīng)該把這種火花視為屬于電弧部分。
（4）:如果在電弧中斷期間材料繼續(xù)燃燒，則材料的這種伴隨電弧而發(fā)生的燃燒，只能視為失效。在其他情況下，繼續(xù)試驗(yàn)下去直至形成導(dǎo)電通道。
（5）:即使材料以后又恢復(fù)電弧放電，仍然以整個(gè)電弧的*熄滅為失效時(shí)，應(yīng)立即切斷電弧電流并停止記時(shí)。記錄5次試驗(yàn)的每一次到達(dá)失效的時(shí)間。
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