產(chǎn)品分類品牌分類
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塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng)- 絕緣電阻劣化(離子遷移)評(píng)估系統(tǒng) 儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 半導(dǎo)體封裝材料真空探針臺(tái) 空間電荷測(cè)試系統(tǒng) 電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng) 高頻高壓絕緣電阻、介電 多通道極化裝置 鐵電分析儀 高壓功率放大器 絕緣電阻率測(cè)試儀 高低溫冷熱臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 50點(diǎn)耐壓測(cè)試儀 電壓擊穿測(cè)定儀 耐電弧試驗(yàn)儀 探針臺(tái) 漏電起痕試驗(yàn)儀 多通道介電與電阻測(cè)試系統(tǒng)
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激光測(cè)振儀 傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng) 先進(jìn)功能材料電測(cè)綜合測(cè)試系統(tǒng) 長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)- 高電場(chǎng)介電、損耗、漏電流測(cè)試系統(tǒng) 阻抗分析儀 鐵電綜合材料測(cè)試系統(tǒng) 鐵電分析儀 高壓功率放大器 D33壓電系數(shù)測(cè)試儀 高溫介電溫譜測(cè)試儀 熱釋電測(cè)試儀 TSDC熱刺激電流測(cè)試儀 高壓極化裝置 高低溫冷熱臺(tái) 簡(jiǎn)易探針臺(tái) 高溫四探針測(cè)試儀 多通道電流采集系統(tǒng) 高真空退火爐 電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng) 高溫管式爐測(cè)試儀 漆包線擊穿耐壓試驗(yàn)儀 電化學(xué)遷移測(cè)試系統(tǒng) 水平垂直燃燒測(cè)定機(jī) 陶瓷材料閃燒試驗(yàn)裝置 導(dǎo)通電評(píng)估系統(tǒng) 差熱分析儀 醫(yī)用接地電阻
極化曲線測(cè)量與原理
測(cè)量和繪制極化曲線是金屬腐蝕試驗(yàn)中很重要的一項(xiàng)電化學(xué)測(cè)量方法。極化曲線可用以測(cè)定金屬的腐蝕速度;研究金屬和合金的鈍化行為,評(píng)定和篩選耐蝕合金;研究各種局部腐蝕;還可以考察發(fā)生腐蝕的原因,研究腐蝕機(jī)理,判斷腐蝕過(guò)程控制環(huán)節(jié),提出保護(hù)措施。此外,極化曲線對(duì)研究緩蝕劑作用機(jī)理,評(píng)定緩蝕效果以及選擇電化學(xué)保護(hù)參數(shù)等都有重要作用。
在發(fā)生電化學(xué)腐蝕時(shí),金屬表面上形成無(wú)數(shù)腐蝕電池,微陽(yáng)極上發(fā)生氧化反應(yīng),微陰極上發(fā)生還原反應(yīng)。對(duì)于均腐蝕來(lái)說(shuō),與氧化反應(yīng)(釋放出帶負(fù)電荷的電子)對(duì)應(yīng)的電流為陽(yáng)極電流(la),取正值;與還原反應(yīng)(得到電子)對(duì)應(yīng)的電流為陰極電流(lc),取負(fù)值。在陽(yáng)極電流作用下陽(yáng)極區(qū)的電位由平衡電位E。.向正方向移動(dòng),可得到陽(yáng)極極化曲線。在陰極電流作用下陰極區(qū)的電位由平衡電位E0,c向負(fù)向移動(dòng),可得到陰極極化曲線。將此兩條極化曲線畫(huà)在二張圖上可得極化曲線圖。
極化曲線圖坐標(biāo)的取法一般是:以電位(E)為縱坐標(biāo),以電流(1)或電流密度(i)為橫坐標(biāo)。在電位一電流密度極化圖上,電流密度坐標(biāo)單位可用線性的[即:電流密度i】,也可用對(duì)數(shù)的[電流密度的對(duì)數(shù)lgi】。”一般而言,采用E=f(lgi)方式的極化曲線(即電流密度為對(duì)數(shù)座標(biāo))適用于電流密度變化范圍很大的電化學(xué)反應(yīng),且有利于展現(xiàn)Tafel(塔菲爾)關(guān)系,這種表達(dá)式的缺點(diǎn)是正、負(fù)電流(或電流密度)在同一象限,不甚直觀;而采用E=f(i)方式的極化曲線(即線性極化曲線圖)中,i>0(右側(cè))代表氧化過(guò)程,i<0(左側(cè))代表還原過(guò)程,這種表示法較為直觀,推薦用于電流密度或電位范圍很小的條件下的研究,或電流密度由陽(yáng)極向陰極轉(zhuǎn)變的區(qū)域很重要的情況下的研究;線性的極化圖也用于測(cè)定極化電阻Rp。