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TT280高精度兩用膜厚儀

閱讀:1634        發布時間:2010-9-25

TT280高精度兩用膜厚儀
TT280膜厚儀珠海天創儀器提供,訂購:
TT280高精度兩用膜厚儀精度高達±(1 um+1%讀數)
無須更換探頭,即可實現磁性測厚和渦流測厚兩用
選配防護墊,可以實現高溫表面(300℃)的涂層測厚
可根據需要,選配不同探頭, 厚可測10mm涂層

TT280高精度兩用膜厚儀技術參數

 

測量范圍 測量范圍0~10mm(根據不同探頭)
精 度 ±(1µm+ 1%讀數)
分 辨 率 0.1µm或<2%讀數
顯示位數 帶背光,4位顯示
小測量面積
(針對FN1.5探頭)
5mm×5mm
小測量曲率半 徑內凹面:5mm 外凸面:1.5mm
基體 小厚度 鐵磁性:0.2mm 非鐵磁性:0.05mm
存 儲 200組
統計功能 平均值、標準偏差、 大 小值( 高到10000個讀數)
數據輸出 紅外方式(可選)
工作溫度 0~50℃
可測表面溫度 -15~+60℃, 高可達300℃(可選
供 電 2AA,1.5V
外形尺寸 137mm×66mm×23mm
重 量 225g
防護等級 IP52
符合標準 DIN、ISO、ASTM、BS

 

可選探頭:

 

探頭型號 用途 測量范圍
FN1.5 磁感應與渦流法兩用 0~1500µm
FN0.2  磁感應與渦流法兩用  0~200µm
FN3.5 磁感應與渦流法兩用 0~3500µm
F10  磁 感 應 法 0~10000

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