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DP-X-3680-貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀
  • DP-X-3680-貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀
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貨物所在地:北京北京市

地: 北京亞歐德鵬科技有限公司

更新時間:2024-07-31 08:56:50

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基本參數(shù)法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
2.包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。
3.樣品室清成像定位系統(tǒng),方便微小樣品定位測量。
4.電制冷與內(nèi)雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合,維持內(nèi)作環(huán)境穩(wěn)定。

貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀 型號:DP-X-3680

產(chǎn)品詳情: 

貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀 型號:DP-X-3680

產(chǎn)品詳情: 

貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀 型號:DP-X-3680

產(chǎn)品詳情: 

X-3680 貴金屬檢測儀
 
產(chǎn)品型號:DP-x-3680
 
產(chǎn)品詳情: 

貴金屬檢測儀 貴金屬測試儀 型號:DP-X-3680

產(chǎn)品詳情: 

X-3680 貴金屬檢測儀
 
產(chǎn)品型號:DP-x-3680
 
產(chǎn)品詳情: 
DP-X-3680是種體現(xiàn)X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發(fā)源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發(fā)的應用軟件,充分發(fā)揮各件的優(yōu)異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強,分辨率,適用于各行業(yè)對不同元素行無損檢測。在不同作環(huán)境下分析范圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,無需制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測度從PPM級別到千分之別。
 
強勢能
1. 基本參數(shù)法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
2.包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。
3.樣品室清成像定位系統(tǒng),方便微小樣品定位測量。
4.電制冷與內(nèi)雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合,維持內(nèi)作環(huán)境穩(wěn)定。
5. 內(nèi)動力學風道,快速排出多余熱量。
6.雙峰位快速自動校準。
7.雙箱體結(jié)構(gòu),抗干擾能力強且方便硬件升級。
8.儀器作方法意開發(fā)。
9. 定量分析:包括經(jīng)驗系數(shù)法,理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。
10.定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖法,光標自動尋峰等。
11.測試報表根據(jù)客戶要求立。
12.溫度系數(shù):溫度變化1度,電壓變化不過0.01%
13.穩(wěn)定性:經(jīng)過半個小時預熱后,每8小時變化不過0.05%
14.準直器:使用的濾波片自動更換,提能區(qū)的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發(fā)的數(shù)字集成新型放大器,提降噪比。
 
整機規(guī)格
1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
 
2. 可測試樣品大小:關倉測量:220mm×200mm×150mm
                   開倉測量:無限大
3. 儀器重量:50公斤
4.作環(huán)境溫度:0——35℃
5. 作環(huán)境相對濕度:≤80%
6. 元素分析范圍:鋁(Al)——鈾(U)
7. 含量分析范圍:1PPM——99.999%
8.測量時間:10——180秒可調(diào)
9. 激發(fā)源:低率X射線管
10.壓電源:美Spellman*壓電源
11.探測器:美Amptek*電制冷Si-Pin半導體探測器
12. 儀器分辨率:55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優(yōu)于149eV
13.多道分析器:2048道
14.軟件:基于WINDOWS的強大作軟件
15. 客戶可行二次開發(fā),自行開發(fā)意多個分析方法
16.作電源:交流 220V  50Hz
-X-3680是種體現(xiàn)X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發(fā)源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發(fā)的應用軟件,充分發(fā)揮各件的優(yōu)異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。

儀器檢測能力強,分辨率,適用于各行業(yè)對不同元素行無損檢測。在不同作環(huán)境下分析范圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,無需制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測度從PPM級別到千分之別。
 
強勢能
1. 基本參數(shù)法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
2.包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。
3.樣品室清成像定位系統(tǒng),方便微小樣品定位測量。
4.電制冷與內(nèi)雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合,維持內(nèi)作環(huán)境穩(wěn)定。
5. 內(nèi)動力學風道,快速排出多余熱量。
6.雙峰位快速自動校準。
7.雙箱體結(jié)構(gòu),抗干擾能力強且方便硬件升級。
8.儀器作方法意開發(fā)。
9. 定量分析:包括經(jīng)驗系數(shù)法,理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。
10.定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖法,光標自動尋峰等。
11.測試報表根據(jù)客戶要求立。
12.溫度系數(shù):溫度變化1度,電壓變化不過0.01%
13.穩(wěn)定性:經(jīng)過半個小時預熱后,每8小時變化不過0.05%
14.準直器:使用的濾波片自動更換,提能區(qū)的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發(fā)的數(shù)字集成新型放大器,提降噪比。
 
整機規(guī)格
1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
 
2. 可測試樣品大?。宏P倉測量:220mm×200mm×150mm
                   開倉測量:無限大
3. 儀器重量:50公斤
4.作環(huán)境溫度:0——35℃
5. 作環(huán)境相對濕度:≤80%
6. 元素分析范圍:鋁(Al)——鈾(U)
7. 含量分析范圍:1PPM——99.999%
8.測量時間:10——180秒可調(diào)
9. 激發(fā)源:低率X射線管
10.壓電源:美Spellman*壓電源
11.探測器:美Amptek*電制冷Si-Pin半導體探測器
12. 儀器分辨率:55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優(yōu)于149eV
13.多道分析器:2048道
14.軟件:基于WINDOWS的強大作軟件
15. 客戶可行二次開發(fā),自行開發(fā)意多個分析方法
16.作電源:交流 220V  50Hz

 
產(chǎn)品型號:DP-x-3680
 
產(chǎn)品詳情: 
DP-X-3680是種體現(xiàn)X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發(fā)源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發(fā)的應用軟件,充分發(fā)揮各件的優(yōu)異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強,分辨率,適用于各行業(yè)對不同元素行無損檢測。在不同作環(huán)境下分析范圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,無需制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測度從PPM級別到千分之別。
 
強勢能
1. 基本參數(shù)法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
2.包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。
3.樣品室清成像定位系統(tǒng),方便微小樣品定位測量。
4.電制冷與內(nèi)雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合,維持內(nèi)作環(huán)境穩(wěn)定。
5. 內(nèi)動力學風道,快速排出多余熱量。
6.雙峰位快速自動校準。
7.雙箱體結(jié)構(gòu),抗干擾能力強且方便硬件升級。
8.儀器作方法意開發(fā)。
9. 定量分析:包括經(jīng)驗系數(shù)法,理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。
10.定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖法,光標自動尋峰等。
11.測試報表根據(jù)客戶要求立。
12.溫度系數(shù):溫度變化1度,電壓變化不過0.01%
13.穩(wěn)定性:經(jīng)過半個小時預熱后,每8小時變化不過0.05%
14.準直器:使用的濾波片自動更換,提能區(qū)的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發(fā)的數(shù)字集成新型放大器,提降噪比。
 
整機規(guī)格
1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
 
2. 可測試樣品大?。宏P倉測量:220mm×200mm×150mm
                   開倉測量:無限大
3. 儀器重量:50公斤
4.作環(huán)境溫度:0——35℃
5. 作環(huán)境相對濕度:≤80%
6. 元素分析范圍:鋁(Al)——鈾(U)
7. 含量分析范圍:1PPM——99.999%
8.測量時間:10——180秒可調(diào)
9. 激發(fā)源:低率X射線管
10.壓電源:美Spellman*壓電源
11.探測器:美Amptek*電制冷Si-Pin半導體探測器
12. 儀器分辨率:55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優(yōu)于149eV
13.多道分析器:2048道
14.軟件:基于WINDOWS的強大作軟件
15. 客戶可行二次開發(fā),自行開發(fā)意多個分析方法
16.作電源:交流 220V  50Hz
X-3680 貴金屬檢測儀

 
產(chǎn)品型號:DP-x-3680
 
產(chǎn)品詳情: 
DP-X-3680是種體現(xiàn)X射線熒光分析展的能量色散X射線熒光光譜儀。它采用低率小型X光管為激發(fā)源,電制冷硅半導體探測器為探測單元,再加上我公司專門開發(fā)的應用軟件,充分發(fā)揮各件的優(yōu)異性能,保證了整臺儀器的分辨率及通用適應性。何需要多元素同時分析的地方,正是它大有作為之處。
儀器檢測能力強,分辨率,適用于各行業(yè)對不同元素行無損檢測。在不同作環(huán)境下分析范圍從Al(13號元素)到U(92號元素)。無損分析迅速,無需制樣,測試時間從幾秒到幾分鐘可調(diào)。檢測度從PPM級別到千分之別。
 
強勢能
1. 基本參數(shù)法對從鋁(13號元素)至鈾(92號元素)定性分析測量。
2.包裹樣品檢測辨別系統(tǒng)。
3.樣品室清成像定位系統(tǒng),方便微小樣品定位測量。
4.電制冷與內(nèi)雙向循環(huán)冷卻恒溫系統(tǒng)相結(jié)合,維持內(nèi)作環(huán)境穩(wěn)定。
5. 內(nèi)動力學風道,快速排出多余熱量。
6.雙峰位快速自動校準。
7.雙箱體結(jié)構(gòu),抗干擾能力強且方便硬件升級。
8.儀器作方法意開發(fā)。
9. 定量分析:包括經(jīng)驗系數(shù)法,理論a系數(shù)法和基本參數(shù)法。
10.定性分析:包括Kl譜線標記法,譜圖法,光標自動尋峰等。
11.測試報表根據(jù)客戶要求立。
12.溫度系數(shù):溫度變化1度,電壓變化不過0.01%
13.穩(wěn)定性:經(jīng)過半個小時預熱后,每8小時變化不過0.05%
14.準直器:使用的濾波片自動更換,提能區(qū)的峰背比。
15.彩色液晶顯示屏
16.自主研發(fā)的數(shù)字集成新型放大器,提降噪比。
 
整機規(guī)格
1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
 
2. 可測試樣品大?。宏P倉測量:220mm×200mm×150mm
                   開倉測量:無限大
3. 儀器重量:50公斤
4.作環(huán)境溫度:0——35℃
5. 作環(huán)境相對濕度:≤80%
6. 元素分析范圍:鋁(Al)——鈾(U)
7. 含量分析范圍:1PPM——99.999%
8.測量時間:10——180秒可調(diào)
9. 激發(fā)源:低率X射線管
10.壓電源:美Spellman*壓電源
11.探測器:美Amptek*電制冷Si-Pin半導體探測器
12. 儀器分辨率:55Fe的能量為5.9Kev的MnKα線,分辨率優(yōu)于149eV
13.多道分析器:2048道
14.軟件:基于WINDOWS的強大作軟件
15. 客戶可行二次開發(fā),自行開發(fā)意多個分析方法
16.作電源:交流 220V  50Hz

 

 

 

 


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