首頁 >> 供求商機
我們的主要產品包括：
測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級儀器化壓入測試儀（納米壓痕儀, 顯微壓痕儀）；
界定膜基結合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ；
包括真空、高溫以及線性往復運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ；
zui簡便易用的膜厚測試儀；
用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope) 。
Anton Paar Conscan白光共聚焦顯微鏡主要特點：
可與CSM各種微米尺度測量模塊結合使用，以分析微米級劃痕和微米級壓痕的三維表面形貌
非接觸式測量，*無損測量
XY大范圍掃描(使用CSM標準操作平臺)
Z方向寬掃描范圍 (zui大范圍 400 微米)
精確的二維輪廓，三維成像和表面粗糙度測量
可以在透明的材料表面進行成像
粗糙或光滑表面成像
Z方向zui大掃描范圍的多種選擇
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