顆粒表面清潔度測(cè)試儀的顆粒標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)片和先進(jìn)的圖像分析技術(shù)保證了結(jié)果的準(zhǔn)確性。此外，精度在通過顆粒驗(yàn)證功能、驅(qū)動(dòng)載物臺(tái)到有問題粒子的確切位置后得到驗(yàn)證。
在制造和裝配過程中的顆粒污染物殘留，將導(dǎo)致設(shè)備在初的磨合過程和壽命早期就出現(xiàn)磨損率的顯著增加，甚至引起災(zāi)害性的失效。
由于清潔度控制問題而導(dǎo)致的產(chǎn)品質(zhì)量缺陷，已直接威脅到制造商的生存，技術(shù)清潔度檢測(cè)如今已經(jīng)引起了業(yè)內(nèi)人士的高度重視。清潔度檢測(cè)的當(dāng)前應(yīng)用范圍涵蓋了從汽車零部件、航天、醫(yī)療、通信殘留顆粒量化缺陷分析。
顆粒表面清潔度測(cè)試儀的功能特點(diǎn)：
1、采用高景深顯微鏡及配件成像效果好。
2、該套設(shè)備自動(dòng)掃描分析并輸出報(bào)告，操作人員只需要將參數(shù)設(shè)置好即可。
3、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆?？倲?shù)、金屬、非金屬、纖維數(shù)量。
4、自動(dòng)區(qū)分金屬顆粒、非金屬顆粒、纖維。
5、自動(dòng)掃描拍照，掃描過程中實(shí)時(shí)可見。
6、滿足ISO16232、VDA19、ISO4406、ISO4407、NAS1638、GB/T20082、GB/T14039等標(biāo)準(zhǔn)，并且支持客戶自定義標(biāo)準(zhǔn)。
7、預(yù)留拓展接口，增加相應(yīng)的配件可做金相分析、孔隙率分析。
8、設(shè)備設(shè)計(jì)開發(fā)理論根據(jù):ISO16232以及VDA19。
9、報(bào)告模板多樣化，用戶可自行選擇相對(duì)應(yīng)的報(bào)告模板，包含統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)、評(píng)級(jí)、濾片全貌圖、大顆粒照片等信息。
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