賽默飛電子顯微鏡
工業(yè)中的 SEM 和 EDS 分析
檢測樣品：工業(yè)產(chǎn)品
檢測項目：微觀結(jié)構和元素分析
方案概述：隨著工業(yè)過程復雜化的增加，需要更嚴格、更高質(zhì)量的分析，以確保產(chǎn)品符合所有質(zhì)量和可靠性標準。由于掃描電鏡（SEM）可以提供樣品表面微觀結(jié)構的詳細（納米級）信息，因此已成為實驗室進行現(xiàn)代研發(fā)以及失效分析和故障排除的常用工具。掃描電鏡通常與 X 射線能譜儀（EDS）結(jié)合使用，將形貌特征和元素信息結(jié)合起來。
想要將 SEM 和 EDS 的數(shù)據(jù)結(jié)合起來，通常需要復雜的工作流程，需要用到多個軟件才能最終獲得想要的數(shù)據(jù)。這種復雜的用戶體驗降低了實驗室的工作效率，造成了潛在的儀器使用行為不一致，并使培訓更加困難，從而使得 SEM-EDS 在大多數(shù)實驗室中成為一種專業(yè)技術。
在本文檔中，我們將簡要介紹 SEM 和 EDS，以及如何將二者結(jié)合起來，在工業(yè)應用中進行更深入的材料表征。我們還將展示*的 Thermo Scientific ChemiSEM 技術，該技術將 SEM 和 EDS 集成到一起，成為一種快速、易用的分析手段，無論是新手用戶還是專業(yè)人士都可快速掌握。
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