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化工儀器網>產品展廳>半導體行業專用儀器>工藝測量和檢測設備>四探針測試儀>FT-331 雙電四探針電阻率詳情介紹

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FT-331 雙電四探針電阻率詳情介紹

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公司概況
寧波瑞柯析理儀器有限公司,作為寧波瑞柯微智能科技有限公司的總經銷商,自成立以來,專注于材料測試儀器領域,憑借深厚的行業積累和敏銳的市場洞察力,不斷拓展業務版圖,在粉體 & 新材料測試與分析儀器的銷售及服務領域樹立良好口碑。
ROOKO 瑞柯微品牌溯源
ROOKO 瑞柯微 2014 年注冊,承載著對粉體 & 新材料測試與分析儀器的執著追求。多年來,秉持專注理念,深耕研發、生產、銷售及服務體系,持續為行業發展提供技術及產品支持。
質量管控與體系認證
公司高度重視質量管理,通過 ISO9001 質量管理體系認證。從原材料采購、生產加工到成品出廠,嚴格遵循工藝流程,確保產品質量穩定可靠,為客戶提供值得信賴的測試與分析儀器。
產品服務領域
產品服務于科研機構、高等院校、實驗室以及企業研發部門,深度融入粉體、顆粒、粉末冶金、制藥、化工、新能源、半導體、導電和絕緣新型材料等多個行業。無論是基礎研究中的數據測量,還是生產實踐中的工藝優化,瑞柯微智能科技生產的儀器都能發揮關鍵作用,助力各行業實現技術突破與產業升級。
經營理念與使命愿景
1.經營理念:堅守 “質量為本、服務先行”,視產品質量為企業生命線,從源頭把控品質;同時,將服務貫穿于售前、售中、售后全過程,及時響應客戶需求,提供解決方案,以服務支撐客戶長期信賴。
2.使命擔當:以研發為驅動,致力于改變行業對測試與分析儀器的傳統認知,通過不斷深化產品品質,為客戶實現價值,推動行業整體進步。
3.愿景展望:立足當下,展望未來,旨在采用新技術、開拓新方法,為全員打造理想的工作環境與發展空間,實現企業與員工共同成長;同時,以客戶價值為導向,攜手廣大用戶,在行業發展浪潮中同頻共振,共同邁向新高度。
4.價值觀:堅持修己,鼓勵員工自我素養與技能學習;倡導求進,積極擁抱變化,勇于開拓進取;將創新思維融入產品研發、服務各個環節。
多元服務體系
1.實驗室樣品測試:配備實驗室及技術團隊,為客戶提供樣品測試服務,助客戶獲取可靠數據,為產品研發、質量控制提供有力支持。
2.儀器租賃:考慮到客戶不同階段的需求及成本因素,提供靈活的儀器租賃服務。客戶可根據項目周期或臨時需求租用測試與分析儀器,為客戶降本增效。
3.技術升級:緊跟行業技術發展趨勢,為客戶現有儀器提供技術升級服務,確保設備性能與時俱進,延長使用壽命,滿足客戶日益增長的測試需求。
4.產品延保:提供貼心的產品延保服務,在原廠質保期基礎上,進一步延長儀器保修時長,讓客戶使用更安心,減少設備故障帶來的后顧之憂。
5.儀器定制:深知不同客戶需求,為客戶量身定制個性化儀器,滿足不同測試場景與工藝要求,助力客戶實現差異化競爭。
生產環境與管理
1.生產車間布局:優化生產工藝流程,設置空調恒溫車間和普通協作車間。空調恒溫車間為對環境溫濕度、潔凈度要求的儀器生產提供穩定條件,確保產品性能穩定可靠;普通協作車間則支持常規生產環節,兩者協同作業,保障生產有序進行。
2.環境與設施:配有空調辦公及車間營造潔凈的生產生活環境,為員工打造舒適的工作空間。園區設有統一的員工食堂,公寓式員工宿舍;打造產品展廳,集中展示公司儀器設備;設立企業實驗室,為研發提供平臺,助力新技術、新產品的孵化;鋪設金鋼砂固化地坪,優化車間整體環境;精心打造員工休息區與茶水間,為員工提供放松身心的場所。
3.管理模式:依據 8S 管理執行,從工作現場的整潔有序到員工素養,從生產的保障到資源的合理利用,優化企業管理,工作效率與產品質量并進,塑造良好的企業形象。
寧波瑞柯析理儀器有限公司愿與各界攜手共進,在粉體 & 新材料測試與分析儀器領域持續深耕產品與服務,為行業發展貢獻力量,共創美好未來。目前經營如下系列產品:

1.粉體、顆粒測試儀器系列;2.材料電性能測試儀系列;3.流變儀和粘度計系列;

4.熱分析儀器系列.

1.粉體、顆粒測試儀器系列:

粉末流動性測試儀,堆密度儀,粉體綜合特性測試儀,粉體屈服強度測試儀.粉體流變儀,粉末電阻率測試儀,休止角測定儀,安息角測定儀,松裝密度測定儀,振實密度儀,斯柯特容量計,霍爾流速計,表觀密度測定儀,顆粒強度測定儀.

2.導體/半導體/絕緣材料電性能測試系列:

材料表面/體積電阻率測試儀、四探針方阻/電阻率測試儀、高溫電阻率測試系統、電壓降測試儀.3.流變儀和粘度計系列;4.熱分析儀器系列.



堆密度儀,松裝密度儀,振實密度儀,四探針測試儀,堆積密度測定儀,安息角測定儀,電壓降測試儀,方阻測試儀,表面和體積電阻率測試儀

產地類別 國產 價格區間 1萬-3萬
應用領域 醫療衛生,化工,生物產業,能源,電子/電池 自動化度 手動

雙電四探針電阻率詳情介紹

適用范圍

1.覆蓋膜;導電高分子膜,高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層,電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料,其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件,導電薄膜(ITO導電膜玻璃等),金屬膜,導電漆膜,蒸發鋁膜,PCB銅箔膜,

3.EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆,導電性糊狀物,導電性塑料,導電性橡膠,導電性薄膜,金屬薄膜,

4.抗靜電材料, EMI 防護材料,導電性纖維,導電性陶瓷等,

雙電四探針電阻率詳情介紹

功能描述Description:

1. 四探針組合雙電測量方法

2. 液晶顯示,自動測量,自動量程,自動系數補償.

3. 集成電路系統、恒流輸出.

4. 選配:PC軟件進行數據管理和處理.

5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

參照標準:

1.硅片電阻率測量的標準(ASTM F84).

2.GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

3.GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

4.GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

 

 

雙電組合測試方法:

利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,對數據進行雙電測分析,解決樣品幾何尺寸、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響,適用于斜置式四探針對于微區的測試。

工作原理和計算公式

1.雙電測四探針法測試薄層樣品方阻計算和測試原理如下

直線四探針測試布局如圖8,相鄰針距分別為S1、S2、S3,根據物理基礎和電學原理:

當電流通過1、4探針,2、3探針測試電壓時計算如下:



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